Tousimis®Laboratoriesでは完成度の高いTEM、S TEM、SEM、EXPM用のＸ線分析用標準物質の開発と作成を行ってきました。４０年間に渡るこの分野に於ける専門家との微量分析用標準物質を通じた交流により得た経験から、信頼性の高い標準物質を提供することが出来ます。高純度の元素／化合物はトーシミスのラボにて厳選され、トーシミス独自の優れた方法によるマウント、研磨を行い、高純度な導電性の高いカーボンにてコーティングされます。この精密な標準品は、エネルギー分散型分光計を用いた定性のみならず、エネルギー及び波長システム双方に於ける正確な定量的測定にも使うことができます。
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Pure Elements(元素） (金属 & 半導体)
最高純度は6-9's (99.9999%).
Natural minerals(天然鉱物)
光学的、化学的、Ｘ線回折、電子プローブＸ線微量分析の特性に基づき、世界中から厳選されています。
Synthetic(合成）
鉱物、化合物そして合金は最新の技術を持ってＸ線微量分析用に調整されます。
全ての標準物質は、直径25.4mm(1インチ)、厚さ5mmの平坦なステンレスディスクにマウントされていて、裏にある直径3.05mm(1/8インチ)、長さ8mmのピンを持ってSEMステージに簡単に挿入する事ができます。(他の形態でのマウントをご希望の方はご相談下さい）
tousimis® では、生物学、鉱物学、金属学どの分野においてもＸ線微量分析に見合った状態での標準物質を調整する事ができますのでご連絡ください。
tousimis® 社の標準物質 (trs®)は殆どの場合分析表が添付されます。これらの分析表は少なくとも３つの別個の分析ラボにおいてアメリカ合衆国 ＮＩＳＴまたは他の研究室に於けるトレーサビリティーのある方法にて分析、標準化を行っています。
trs®は再研磨可能です。トーシミス社はＸ線標準物質を通じてお客様をサポートし、常に新しい技術情報を収集し、最新の情報を提供し続けます。
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